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GP-2003双翼落下试验机

GP-2003双翼落下试验机专门测试产品包装后,受到坠落时之受损情况,及评估电子组件在搬运时,遭受落下之耐冲击强度。本机采用电磁控制,试料能瞬间自由落下,包装容器之菱、角、面均可测试。
    符合标准:ISO-3768, 3769, 3770;ASTM-B117, B268,JIS-D0201, H8502,H8610, K5400, Z2371


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